HD – CR 43

HD – CR 43

Radiografía computada de alta definición DÜRR NDT

Es la primera empresa en el mundo que ha desarrollado un escáner con un punto láser de 12.5 μm. Cuando se utiliza con placas de almacenamiento de fósforo correspondientemente de alta resolución, cumple con los estrictos requisitos de EN14784, EN17636 y ASTM E2446.

La combinación de placas de imagen de alta resolución y este dispositivo HD-CR logra la Resolución espacial básica única de 40 μm en todas las clases de sistemas por primera vez. (Certificado por BAM)

Resolución ajustable
El HD – CR 43 NDT le da al usuario la opción de seleccionar una resolución de escaneo de 20 μm para la inspección de soldadura o una resolución de escaneo de 100 μm para una aplicación CUI donde la velocidad y una exposición corta realmente son los principales requisitos. La resolución de escaneo continuo garantiza que se puedan configurar los ajustes correctos para satisfacer las necesidades de aplicación e inspección.

Descripción

Radiografía computada de alta definición DÜRR NDT

Es la primera empresa en el mundo que ha desarrollado un escáner con un punto láser de 12.5 μm. Cuando se utiliza con placas de almacenamiento de fósforo correspondientemente de alta resolución, cumple con los estrictos requisitos de EN14784, EN17636 y ASTM E2446.

La combinación de placas de imagen de alta resolución y este dispositivo HD-CR logra la Resolución espacial básica única de 40 μm en todas las clases de sistemas por primera vez. (Certificado por BAM)

Resolución ajustable
El HD – CR 43 NDT le da al usuario la opción de seleccionar una resolución de escaneo de 20 μm para la inspección de soldadura o una resolución de escaneo de 100 μm para una aplicación CUI donde la velocidad y una exposición corta realmente son los principales requisitos. La resolución de escaneo continuo garantiza que se puedan configurar los ajustes correctos para satisfacer las necesidades de aplicación e inspección.

 

Imágenes brillantes para aplicaciones de cargas de trabajo pesadas.

 

Resolución

2.5 – 200 μm continuamente ajustable

BSR (Basic Spatial Res.)

40 μm certified by BAM (with High Definition IP)

Resolución de nivel gris

16 bit, 65,536 de nivel gris

Dimensiones (H x W x D)

113 x 40 x 44 cm 44.5″ x 15.8″ x 17.3″

Peso

55 kg 121.25 lbs

Energía

100 – 240 VAC / 50 – 60 Hz, max 250 W

Rango de temperatura

10 to 35 °C 50 to 95 °F

Nivel de ruido

< 39 dB(A)

Max. Cassettes / h

∼ 65

Clase de láser

I (EN60825-1)

PC-Connection

Ethernet (TCP-IP protocol)

Software

DÜRR NDT D-Tect

Requerimientos Accesorios IT

Para conocer los requisitos, consulte www.duerr-ndt.com
Sobres de protección para aplicaciones de todo tipo de clima, diferentes resoluciones de IP disponibles

 

La radiografía computarizada (CR) es la adquisición de una imagen digital mediante el uso de una placa de imagen de fósforo (IP) en lugar de una película convencional.

Las principales ventajas de CR incluyen:
– IP’s son reutilizables
– No requiere espacio oscuro ni productos químicos
– Exposición y tiempos de proceso reducidos
– Flujo de trabajo sencillo y optimización de imágenes con el software D-Tect
– Simple de compartir y archivar información digital

La tecnología de CR consta de un proceso de 3 pasos.
La placa de imagen (almacenamiento) (IP) se expone con rayos X o radiación gamma, lo que hace que la capa de fósforo en la placa almacene la imagen de rayos X.

Durante el proceso de lectura de la placa en el escáner, un rayo láser enfocado desencadena la liberación de los datos de imagen almacenados en forma de luz visible.

La luz emitida se detecta, captura y convierte en señales eléctricas que se digitalizan y finalmente se muestran como una imagen digital en el monitor de la PC.

El borrador interno en línea elimina los datos residuales de la IP, que luego está lista para la próxima exposición.

¿Lo que es importante?
Con la radiografía de película, la única variable es la película. Con CR tenemos diferentes IP y la capacidad de ajustar hasta 4 parámetros dentro del escáner para optimizar la calidad de imagen para que se adapte a la tarea de inspección requerida.

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